試驗要求-試驗設備-試驗箱

    試驗箱和附件的結構應防止冷凝水滴落在試件上。試驗箱通過(guò)帶過(guò)濾功能的通氣孔與大氣相連，既能防止試驗箱內的壓力增大，又能防止向大氣排放霉菌孢子。

傳感器

    使用不受冷凝影響的濕度測量系統或傳感器來(lái)監測和控制試驗箱內的濕度（見(jiàn)GJB 150.1A-2009中的3.18）?？刂圃囼炏洵h(huán)境條件的傳感器與記錄濕度和溫度的傳感器應分開(kāi)。

風(fēng)速

    流經(jīng)濕度傳感器的風(fēng)速至少為4.5m/s。流經(jīng)試件和對照條附近的風(fēng)速應控制在0.5m/s~1.7m/s之間。如果需要則在試件周?chē)仓谜巯蜓b置過(guò)濾網(wǎng)。濕度傳感器應安裝在不受風(fēng)扇馬達熱影響的地方。

相對濕度

    應使用不受水冷凝影響的固態(tài)傳感器或等效的方法（如快速響應的干濕球傳感器）測定相對濕度，不要使用對冷凝敏感的氯化鋰傳感器，同時(shí)還要注意：

    a 當使用濕球控制方法時(shí)，清潔濕球組件，每次試驗都裝上新紗布條；

    b 為了在傳感器上獲得測量濕球溫度所必需的蒸發(fā)，應確保流經(jīng)濕球的風(fēng)速不小于4.5m/s；

    c 因為來(lái)自風(fēng)扇馬達的熱可能影響溫度讀數，因此不要在靠近用于滿(mǎn)足6.2.2 b 要求的風(fēng)扇或風(fēng)器的散熱處安裝濕球和干球傳感器。

物理影響-可能出現的物理影響如下：

    a 電氣或電子系統：直接或間接侵蝕均可導致電氣或電子系統的損壞。例如，霉菌在絕緣材料上能夠形成不希望有的導電通路，或者對精密調節電路的電特性產(chǎn)生負面影響。

    b 光學(xué)系統：光學(xué)系統的損害主要是由于間接侵蝕引起的。霉菌對光學(xué)系統中光的傳播能產(chǎn)生負面影響，阻塞精密活動(dòng)部位，使干燥表面變潮濕并伴隨性能的下降。

特殊要求

    本試驗一般不適宜在事先做過(guò)鹽霧、砂塵或濕熱試驗的試件上進(jìn)行。如果需要，可在鹽霧或砂塵試驗前做霉菌試驗。大量聚集的鹽分會(huì )影響霉菌的發(fā)芽和生長(cháng)，而砂塵能為霉菌提供養分，因此可能對試件的生物敏感性造成假象。