壓加速壽命試驗箱HAST的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間。用于調查分析何時(shí)出現電子元器件和機械零件的磨耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗。

　　高壓加速壽命試驗箱產(chǎn)品規格：

　　溫度范圍：+105.0℃~+142.9℃

　　濕度范圍：75%~100%RH

　　溫濕度穩定度：±0.5℃、±3℃RH

　　溫度分布均度：±1℃

　　壓力范圍：0.2~2.0kg/cm2G(選配0.2~4.0kg/cm2G)

　　升溫時(shí)間：室溫上升140℃需約120分鐘

　　內箱尺寸：￠45×45/￠65×60

　　材質(zhì)：內外不銹鋼板

　　電源：1￠220V60HZ/380V50HZ20A

　　高壓加速壽命試驗箱廠(chǎng)家產(chǎn)品特點(diǎn)：

　　1、圓形橫置式內槽結構設計方便使用者取置待測品

　　2、馬達驅動(dòng)磁性風(fēng)扇機構循環(huán)(溫度/濕度分布均勻佳)

　　3、安全程序自動(dòng)停機,自動(dòng)泄壓,自動(dòng)破真空,自動(dòng)給水

　　4、HAST設備本體材質(zhì)SUS#316,外部包裝材質(zhì)SUS#304

　　5、電磁風(fēng)扇馬達循環(huán)裝置濕度分布均勻

　　6、飽和或不飽和可程控模式

　　7、溫度/濕度/濕球/溫度/壓力/電壓顯示

　　高壓加速壽命試驗箱廠(chǎng)家詳細說(shuō)明

　　隨著(zhù)半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長(cháng)期的THB試驗而不會(huì )產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測試時(shí)間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時(shí)間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類(lèi)型：現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(電工委員會(huì ))所標準化。